OLED相關顯示技術中，較受重視的為主動矩陣有機發光二極體(AMOLED)，AMOLED具有輕薄、高對比度、廣視角等諸多優點，因此其應用廣泛，如圖一所示。但由於TFT、OLED元件會隨著操作而逐漸老化而造成的烙印(burn-in)現象或者因元件之間電特性之變異而造成不均勻(mura)現象，使得面板顯示品質下降。而AMOLED畫素補償電路雖具有補償上述現象之補償功能，然而補償功效有限，若可結合一外部補償機制將藉由外部相機所得出之亮度資訊與寫入之資料電壓做比對，再藉由外部IC產生之補償值回饋至畫素電路中，將可大幅提升面板之均勻性，以及解決OLED顯示器畫面烙印之問題。

近年來，高畫面品質之AMOLED顯示器已成為市場上的主流，然而AMOLED畫素補償電路所產生之驅動電流雖能對TFT和OLED特性老化以及元件之間的特性變異進行初步的補償，但補償效果有限，以現行常見的7T1C畫素補償電路(圖二)為例，將會遇到下述幾項問題:

1. TFT出廠時因製程差異而產生之電特性變異，將使得各畫素之補償效果不同進而使得畫面產生mura現象。
2. TFT隨著使用時間的推移而老化產生之臨界電壓飄移，使各畫素承受之偏壓時間、偏壓大小以及溫度的影響不同，使圖像產生burn-in現象。
3. OLED隨著使用時間的上升而老化導致之開啟電壓增加以及發光效率下降，將會使得驅動電晶體對於驅動電流的控制能力下降，並造成各個像素點無法達到預期之亮度，使輸出圖像產生burn-in現象。

上述之7T1C畫素電路之驅動電流大小如下所式：

由公式(1)可知補償值(V_{TH_Comp})與實際之臨界電壓值(V_{TH_DRT})將會存在∆V之差異，導致OLED電流仍有變異，降低AMOLED顯示器之顯像品質。